Φασματοσκοπία LIF

 

Μη καταστρεπτική
Χρησιμοποιεί απλή οπτική διάταξη
Προσφέρει αποτελέσματα σε πραγματικό χρόνο
Εξαιρετικά ελκυστική για υπαίθριες εφαρμογές και εξ αποστάσεως ανάλυση
 

Στο πλαίσιο του έργου, η εφαρμογή της μεθόδου LIF εστιάζεται στον προσδιορισμό των οπτικών ιδιοτήτων του υλικού των μονωτήρων και στη σχέση τους με το επίπεδο καταπόνησης αυτών.

 

pic17

 

Η μέθοδος LIF επιτρέπει την αναγνώριση και το διαχωρισμό των μονωτήρων διαφορετικής χημικής σύστασης καθώς τα φάσματα εκπομπής που λαμβάνονται από την επιφάνεια των αντιστοίχων δειγμάτων παρουσιάζουν εκπομπή με διαφορετικά χαρακτηριστικά.

Τα φασματικά χαρακτηριστικά (μεγίστης ένταση και θέση μεγίστης εκπομπής) παρουσιάζουν διαφορετική τιμή στο εσωτερικό και την επιφάνεια των δειγμάτων.

 

 

 

 

Μελέτη συνθετικών μονωτήρων υψηλής τάσης με Φασματοσκοπία Raman

 

Φασματοσκοπία Raman

 

Μη καταστροφική αναλυτική τεχνική
Προσδιορίζει τη μοριακή δομή και τη χημική σύσταση οργανικών και ανόργανων υλικών.
Χρησιμοποιείται για ανάλυση στερεών, υγρών και αερίων
Άμεση διαδικασία
Ποσοτική ανάλυση
 

Η εφαρμογή της φασματοσκοπίας Raman για τον προσδιορισμό της δομής του υλικού των μονωτήρων ΥΤ καιτην αξιολόγηση της επιφανειακής κατάστασης αυτών. 

 

pic19

 

 

 

Μελέτη συνθετικών μονωτήρων ΥΤ με τεχνική ανάκλασης υπέρυθρης ακτινοβολίας
(
Fourier Transform Infrared- AttenuatedTotalReflection/ FTIR-ATR)

 

pic9

H τεχνική FTIR-ATR είναι εξαιρετικά αποτελεσματική στην ταυτοποίηση του υλικού κατασκευής, το οποίο δε γνωστοποιείται από τις εταιρείες κατασκευής, καθώς τα αντίστοιχα φάσματα παρουσιάζουν χαρακτηριστικές κορυφές απορρόφησης που λειτουργούν ως δακτυλικό αποτύπωμα.

Η συνολική απορρόφηση μετρούμενη στην επιφάνεια των μονωτήρων μειώνεται με το χρόνο παραμονής στο δίκτυο τάσης.